一、简介：

CST-50型冲击试样缺口投影仪是我公司根据美标ASTM　E23-02a《材料缺口试样标准冲击试验方法》和GB/T229-2007《金属夏比摆锤冲击试验方法》中对冲击试样缺口的要求而设计、开发的一种专用于检查夏比V型和U型冲击试样缺口加工质量的专用光学仪器，该仪器是利用光学投影方法将被测的冲击试样V或U型缺口轮廓放大投射到投影屏上，与投影屏上冲击试样V和U型缺口标准样板图比对，以确定被检测的冲击试样缺口加工是否合格，其优点是操作简便，检查对比直观，效率高。

二．方案描述：

本投影仪光源发出的光线经聚光镜照射到被测物体，再以物镜将被照射物体放大的轮廓投射到投影屏上。 根据需要，本仪器为单一投射照明，光源通过一系列光学元件投射在工作台上，再通过一系列光学元件将被测试样缺口轮廓清晰地投射到投影屏上。物体经二次放大和二次反射成正像，在投影屏上所看到的图形与实际试样放置的方位一致。将被测度样放在工作台上，旋转工作台升降手轮，调焦至影像清晰，再调整圆工作台和纵横向调节手轮，使已放大了50倍的试样V型（或U型）缺口投影图与本仪器所提供的也放大了50倍的冲击试样缺口标准尺寸图对比，即判断出冲击试样V型（或U型）缺口的几何尺寸加工质量。

三．主要技术参数：

1、投影屏直径：180mm                   

 2、 光源（卤钨灯）：12V     100W

1. 3、工作台尺寸：                        

a) 方工作台尺寸：  110×125mm      

b) 圆工作台直径：  90mm                    

c) 工作台玻璃直径：70mm  

  4、工作台行程：

a) 纵向： ±10mm

b) 横向：±10mm

c) 升降：±12 mm （无刻度）

5、工作台转动范围：0～360°（无刻度）  

 6、电源： 220V  50Hz

7、外形尺寸：515×224×603mm           

  8、重量： 约18kg

9、仪器放大倍率：         50x

  物镜放大倍率：         2.5x

 投影物镜放大倍率：     20x

四、质量保证

            设备三包期为正式交货之日起一年。在三包期内，供货方对设备出现各类故障及时免费维修服务。对非人为造成的各类零件损坏，及时免费更换。保修期外设备在使用过程中发生故障，供货方及时到订货方服务，积极协助订货方完成维修任务。